The SAMnalysis software

SAMnalysis – ein Softwarepaket für die erweiterte Analyse von SAM-Daten für Fehleranalyse, Qualitätskontrolle und wissenschaftliche Anwendungen.

Das Paket beinhaltet qualitative und quantitative Auswerteroutinen und Algorithmen verschiedenster Art, aufgezeichnete Z-Scans zu analysieren. Damit lassen sich Informationen über rückgestreute Amplituden, Fast-Fourier-Transformationen, HILBERT-Integral-Analysen usw. ausführen.

Es besteht die Möglichkeit, den E-Modul, den G-Modul und die Poisson-Zahl zu ermitteln und bietet Ingenieuren und Wissenschaftlern einzigartige Möglichkeiten der SAM-Datenanalyse.

Es ist für Anwendungen innerhalb der Materialanalytik, biologisch-medizinische Fragestellungen und Aufgaben der Halbleiterfehleranalyse geeignet. Samnalysis vereint den Stand der Technik in Vor- und Nachbearbeitungsalgorithmen mit geeigneter Ergebnisverarbeitung und Management System sowohl für wissenschaftliche als auch für industrielle Anwendungen.


Übersicht über Funktionen:

  • Große Vielzahl an Visualisierungs- und Abbildungsmöglichkeiten
  • 3D- und volumetrische Untersuchung, sogar von komplexen Proben
  • 3D-Rendering von internen Strukturen und Schnittstellen
  • Auswertung von Oberflächendeformationen (warpage, bow)
  • Detaillierte Querschnittsanalyse
  • Angewandte akustische Signalanalyse (Sliding window Algorithmen in Kombination mit verschiedensten Parametern)
  • Umfangreiche Auswertungen und Modifikationen von SAM Daten (Bildkontrast, Threshold, Bildinterpolationen, bildanalytische Filter)
  • Time Of Flight Analyse, Dickenmessungen über die Laufzeit des Ultraschalls
  • Analyse von Dickenprofilen
  • Vergleichende Analyse und Visualisierung von A-Scan Signalen
  • Toolbox für die quantitative Ermittlung mechanischer und elastischer Eigenschaften
  • Große toolbox für die Bildverarbeitung und Visualisierung der Eigenschaften
  • Bewertung gebrochener Bereiche
  • Vergleichende Bildanalyse von Auswirkungen / Defekten/ Unterschieden vor und nach Belastung
  • Spektral- und wavelet-basierte Schmalband-Abbidung zur Auflösungsverbesserung
  • Geeignete Ergebnis-Bearbeitung und Report Wizard für MS-Office
  • Bilderstellung off-line aus gespeicherten Daten
  • Quantitative Analyse zur Extrahierung von Defekten oder internen Strukturen in der Probe; verschiedene Methoden zur akkuraten Entfernung von Proben-Neigungen