Entdecke die Welt der akustischen Mikroskopie

Die Ultraschallmikroskopie bietet die Möglichkeit, zerstörungsfreie Prüfungen an opaken (optisch nicht transparenten) Materialien vorzunehmen und das Probeninnere mit einer Auflösung eines optischen Lichtmikroskops zu inspizieren.

In nahezu jedem Bereich der modernen Wissenschaft und Technologie sind die Anforderungen für innovative und fortgeschrittene Lösungen für zerstörungsfreie Abbildung anhand von Ultraschallmikroskopen gestiegen. Neue Denkwege und visionäre Ideen stehen hinter unserem erfolgreichen Konzept der zukunftsweisenden Ultraschalltechnologie.

Die PVA Tepla Analytical Systems GmbH mit Sitz in Westhausen entwickelt und produziert Ultraschall-Rastermikroskope der nächsten Generation, mit Frequenzen von 1 bis 2000 MHz. Neben abbildenden Analysen stehen auch quantitative Lösungen zur Materialcharakterisierung im Vordergrund.

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News

25.07.2016
Metro4-3D
We are privileged to be part of the European joint project, Metro4-3D (Metrology for future 3D-technologies) which aims to maintain a strong position in the metrology area for semiconductor industry. PVA TePla Analytical Systems GmbH’s main objective on this joint project is to detect internal defects in the BEOL layers, Through-Si Vias (TSV’s) and micro-bumps as well as voids or cracks in stacked dies and wafers using a GHz Scanning Acoustic Microscope. To learn more about Metro4-3D,check http://metro4-3d.eu/index.php
17.03.2016
Top news for 2016
-Next generation of scanning systems: single gantry linear drives, dual gantry linear drives, new intelligent linear motion z axis system -New high performance digitizers up to 7 GSPS for high performance SAM analysis and imaging -New thin film transducers with customized design 85 MHz-2000 MHz -Next generation of failure analysis SAMs with puls echo and tone burst excitation modes -WINSAM 8 graphical user interface W10/ 64 bit -New GHz scanning systems combined with optical top table microscopes and inverted microscopes